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Solution

BI4201-OE OE 老化系统

 

BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境,对光器件(例如VCSELs, PIN 或APD)以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不同的测试夹具。BI4201由老化板(测试夹具)、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老化板独立供电和监控。且系统支持数据库,系统软件可以支持上传或下载老化数据,利用系统集成的“Quick Check”功能,可以非常方便的准实时查询每个模块或器件的信息。 同时为了确保系统可靠地在温箱内工作于40~85oC,每块老化子板具有独立的温度传感器和风扇控制系统,系统会自动更具反馈系统检测到的电压及温度信息,调节风扇转速,以确保整个温箱内部温度的均匀性,同时实时监控可以在探测到失效条件下及时发出告警,并切断老化子板的电源,以避免昂贵的器件及模块大面积失效。 输出幅度可调:4通道输出幅度独立可调; BI4201的整体架构通过集成通用器件和驱动电路,从而显著降低了系统的成本。系统尺寸可以根据用户需求进一步优化。 1

 

 
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BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境,对光器件(例如VCSELs, PIN 或APD)以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不同的测试夹具。BI4201由老化板(测试夹具)、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老化板独立供电和监控。且系统支持数据库,系统软件可以支持上传或下载老化数据,利用系统集成的“Quick Check”功能,可以非常方便的准实时查询每个模块或器件的信息。 同时为了确保系统可靠地在温箱内工作于40~85oC,每块老化子板具有独立的温度传感器和风扇控制系统,系统会自动更具反馈系统检测到的电压及温度信息,调节风扇转速,以确保整个温箱内部温度的均匀性,同时实时监控可以在探测到失效条件下及时发出告警,并切断老化子板的电源,以避免昂贵的器件及模块大面积失效。 输出幅度可调:4通道输出幅度独立可调; BI4201的整体架构通过集成通用器件和驱动电路,从而显著降低了系统的成本。系统尺寸可以根据用户需求进一步优化。 1

 

 
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主要特点:

BI4201-OE 选件是专门针对OE器件老化的系统,该系统在温箱内由8个子系统,且每个子系统支持6个老化板,每个老化板支持8个OE器件,总共单个温箱支持8*6*8=384pcs器件 (VCSEL/PD/APD) 同时老化。
每个Panel背板上带有4只温度监控芯片,整个系统共有4*6*8=192只温度监控芯片,可以对烤箱内部做温度的立体监控;
烤箱内部配有风扇,每4pcs模块配有一个风扇,根据监控到的温度再微调风扇转速,以保证内部温度的均匀性;
系统对每个风扇实时监控,以及时发现故障风扇;
 
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